Навчальний план

Галузь знань – 0402 Фізико-математичні науки
Напрям підготовки – Прикладна фізика 6.040204

3-й семестр

Предмет Лекцій Лаб. Практ. На тиждень Звітність
Безпека життєдіяльності 16 16 1:1 Диф. залік
Електрика і магнетизм 48 64 3:4 Іспит
Іноземна мова 64 0:4 Немає
Математичний аналіз 32 48 2:3 Іспит
Фізичний практикум з електрики 48 0:3 Залік
Чисельні методи 16 16 1:1 Іспит
Фiзвиховання 32 0:2 Залік
Моральна культура спілкування та етикет 16 16 1:1 Залік

4-й семестр

Предмет Лекцій Лаб. Практ. На тиждень Звітність
Диференціальні та iнтегральні рiвняння 32 32 2:2 Іспит
Іноземна мова 64 0:4 Немає
Методи математичної фізики 32 32 2:2 Залік
Оптика 48 64 3:4 Іспит
Теоретична механіка i основи механіки суцільних середовищ 32 16 2:1 Залік
Фізичний практикум з оптики 48 0:3 Залік
Фiзвиховання 32 0:2 Залік
Логіка 16 16 1:1 Залік

5-й семестр

Предмет Лекцій Лаб. Практ. На тиждень Звітність
Електродинаміка 32 2:0 Залік
Українська мова за професійним спрямуванням 6 10 0,4:0,6 Іспит

6-й семестр

Предмет Лекцій Лаб. Практ. На тиждень Звітність
Електродинаміка 32 32 2:2 Іспит
Квантова механіка і елементи квантової інформації 48 32 3:2 Залік
Методика викладання фізики 16 32 1:2 Іспит
Основи радiоелектроніки 16 16 1:1 Залік
Фізичне матеріалознавство 16 1:0 Залік
Фізичний практикум з ядерної фізики 32 0:2 Залік
Ядерна фiзика 32 32 2:2 Диф. залік
Наноматеріали і нанотехнології спецпракт. 48 0:3 Залік
Наноматеріали і нанотехнології 32 2:0 Залік

7-й семестр

Предмет Лекцій Лаб. Практ. На тиждень Звітність
Квантова механіка і елементи квантової інформації 24 24 1,5:1,5 Іспит

8-й семестр

Предмет Лекцій Лаб. Практ. На тиждень Звітність
Квантова електроніка 24 24 1,5:1,5 Іспит
Комп’ютерне моделювання фізичних процесів 16 32 1:2 Залік
Комп’ютерні вимірювальні системи 16 32 1:2 Залік
Термодинаміка і статистична фізика 32 32 2:2 Іспит
Фізика діелектричних кристалів 32 16 2:1 Іспит
Фізика низьких температур 16 16 1:1 Залік
Дисципліна на вибір 1:Акустичні методи експертизи
Фізика нанорозмірних об’єктів
32 32 2:2 Залік
Дисципліна на вибір 2:Дифракційні методи дослідження матеріалів
Фізика напівпровідників і діелектриків
32 32 2:2 Іспит