Опис навчальної дисципліни

принципами дії оптичних приладів (мікроскопів, телескопічних систем, інтерферометрів, поляризаційних пристроїв та елементів інтегральної оптики), так і допоможе в майбутньому на основі набутих знань робити правильний вибір з численних оптичних способів такий, який забезпечить проведення достовірних світлових вимірювань.

Завдання –  Засвоїти необхідні теоретичні і практичні відомості про основи і фізичні принципи побудови оптичних приладів, використовуваних для проведення світлових вимірювань та технічного контролю.

В результаті вивчення даного курсу студент повинен

знати:

• загальні принципи дії оптичних приладів та принципи їх конструювання;
• схеми проходження променів через оптичні пристрої (мікроскопи, телескопічні системи);
• роль різного роду діафрагм в оптичних приладах;
• основні способи світлових вимірювань;
• про різноманітні можливості оптичних методів технічного контролю;
• елементи геометричної теорії інтерферометрів;
• методи реєстрації інтерференційних картин;
• принцип дії типових двопроменевих інтерферометрів;
• основи багатопроменевої інтерференції;
• основні вимоги до конструювання інтерферометрів;
• фізичні основи методів поляризаційних вимірювань;
• методи і прилади для отримання і опису поляризованого світла;
• методи і прилади для вимірювання кутів повороту площини поляризації;
• методи і прилади для вимірювання параметрів еліптично поляризованого світла;

вміти:

• проводити для параксіальної області прості розрахунки для визначення положення і величини зображення предмета, всіх діафрагм, які належать системі;
• здійснювати світлові вимірювання, правильно поєднуючи оптичні прилади з джерелами і приймачами світла, освітлювальними і проекційними системами до них;
• розраховувати збільшення, роздільну здатність і числову апертуру оптичних пристроїв (мікроскопи, телескопічні системи);
• здійснювати вибір принципіальної схеми інтерферометра для проведення вимірювань довжини, визначення показника заломлення, контролю форми поверхні і дослідження неоднорідностей прозорих об’єктів;
• проводити якісний аналіз поляризованого світла;
• здійснювати вимірювання кута повороту площини поляризації оптично активними середовищами;
• проводити аналіз еліптично поляризованого світла з використанням компенсаторів Сенармона, Бабіне і Сошейля;
• проводити еліпсометричне дослідження складних відбиваючих систем.

1. Скворцов Г.Е. Микроскопы. – Л., 1979. – 511 с.
2. Шишловский О.А. Експериментальна оптика. – Київ, 1969. – 656 с.
3. Шишловский А.А. Прикладная физическая оптика. – М., 1982. – 822 с.
4. Волкова Е.А. Поляризационные измерения. – М., 1974. – 156 с.
5. Ржанов А.В., Свиташев К.К., Семененко А.И., Соколов В.К. Основы элипсометрии. –Новосибирск, 1978. – 424 с.
6. Вейнберг В.Б., Саттаров Д.К. Оптика световодов. – Л., 1977. – 320 с.