Дифракційні методи дослідження матеріалів (Прикладна фізика)

Тип: Нормативний

Кафедра: фізики металів

Навчальний план

СеместрКредитиЗвітність
84Іспит

Лекції

СеместрК-сть годинЛекторГрупа(и)
832професор Миколайчук О. Г.ФзП-41(1), ФзП-41(2)

Лабораторні

СеместрК-сть годинГрупаВикладач(і)
832ФзП-41(1)професор Миколайчук О. Г.
ФзП-41(2)професор Миколайчук О. Г.

Опис навчальної дисципліни

Отримання інформації про структуру речовини – необхідний і найбільш трудоємкий етап створення нових матеріалів і технологій, які визначають технічний прогрес всіх напрямів людської діяльності.

В програмі представлено основні дифракційні методи дослідження матеріалів, з більш детальним висвітленнями методу рентгеноструктурного аналізу який є на даний час одним з найбільш широко розповсюджених і доступних методів дослідження кристалічної структури, якісного і кількісного аналізу, складу досліджуваної речовини та його зміни при зовнішніх впливах.

Мета: Ознайомлення студентів з основними принципами та методами дифракційного аналізу атомної структури кристалічних матеріалів, поглиблення уявлень про фізичні явища, які лежать в основі представлених в курсі метолів дослідження структури речовини. Ознайомлення студентів з основними можливостями і обмеженнями цих методів і закріплення цих знань в процесі самостійної роботи на сучасному обладнанні.

Завдання:

  1. Засвоєння студентами теоретичних основ і можливостей сучасних методів дослідження структури та особливостей сучасної апаратури.
  2. Формування цілісних уявлень про основні методи що застосовуються в структурних дослідженнях.
  3. Ознайомлення студентів з сучасними тенденціями в розвитку експериментальної бази рентгеноструктурних досліджень і математичного забезпечення для обробки експериментальних даних.

В результаті вивчення даного курсу студент повинен

знати:

  1. Основні фізичні процеси що відбуваються при взаємодії рентгенівських променів, електронів та нейтронів з речовиною.
  2. Теорію та практику дослідження структури моно- та полікристалів методами дифракції рентгенівських променів..
  3. Математичні методи обробки результатів дифракційного експерименту.

вміти:

  1. Будувати основні кристалографічні проекції монокристалів та визначати індекси площин.
  2. Проводити розшифровку рентгенограм моно- та полікристалів.
  3. Користуватися фізичною апаратурою та свідомо проводити експериментальні дослідження; обробляти результати експериментів, застосовувати здобуті знання на практиці.

Рекомендована література

Основна

  1. Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials Springer 2005, 713p. с.
  2. В.А. Лиопо, В.В. Война Рентгеновская дифрактометрия Гродно 2003, 171с.
  3. А. А. Русаков Рентгенография металлов М.: Атомиздат 1977, 480с.
  4. Rene Guinebretiere X-ray Diffraction by Polycrystalline Materials Hermes Science, 2007
  5. Г. П. Кушта Рентгенографія металів Видавництво Львівського університету, 1959 386 

Додаткова

  1. А. И. Китайгородский Рентгеноструктурный анализ М., 1950 650с.
  2. А. И. Китайгородский Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел. М.: 1952 588 с.
  3. А. Ф. Скрышевский Дифракция рентгеновских лучей, электронов и нейтронов в газах и строение молекул Изд-во киевского университета, 1961, 85 с.
  4. Б. К. Вайнштейн Современная кристаллография (в 4 томах) М.: Наука, 1979.

Навчальна програма

Завантажити навчальну програму