Мікроскопічні методи в сучасному матеріалознавстві (Фізика)

Тип: На вибір ВУЗу

Кафедра: фізики твердого тіла

Навчальний план

СеместрКредитиЗвітність
104.5Іспит

Лекції

СеместрК-сть годинЛекторГрупа(и)
1016доцент Тузяк О. Я.

Лабораторні

СеместрК-сть годинГрупаВикладач(і)
1032

Опис навчальної дисципліни

У даній дисципліні систематизуються основні поняття оптичної мікроскопії, які згодом узагальнюються на випадок електронної мікроскопії. У першій частині курсу вивчаються електронні растрова та просвічуюча мікроскопії. Значну увагу приділено процесам взаємодії електронного пучка зі зразком, зокрема генерації Х-випромінювання та рентгенівському мікроаналізу з допомогою скануючого електронного мікроскопа. Далі у спецкурсі розглянуто основи зондової мікроскопії, зокрема детально вивчаються тунельний та атомно-силовий мікроскопи, їх будова та режими роботи.

В результаті вивчення даного курсу студент повинен

знати:

  • основні поняття мікроскопії;
  • принципи роботи електронних та зондових мікроскопів та їх складові;
  • можливості різних мікроскопійних методик та їх обмеження

вміти:

  • працювати на скануючому електронному мікроскопі на рівні користувача, читати отримані мікроскопом у різних режимах зображення;
  • готувати зразки та проводити мікроаналіз за наявності відповідного програмного забезпечення;
  • обробляти та інтерпретувати отримані результати зондової мікроскопії з допомогою спеціального програмного забезпечення;
  • обирати оптимальний метод мікроскопії у самостійній науковій роботі.

Рекомендована література

  1. Тузяк О.Я. , Курляк В.Ю. Основи електронної та зондової мікроскопії: навч. посібник. –Львів : ЛНУ імені Івана Франка, 2012.
  2. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. -Нижний Новгород: ИФМ РАН, 2004.
  3. Goodhew P.J., Humphreys J., Beanland R. Electron microscopy and analysis. 3d edition.- Taylor and Francis, London and New York, 2001.
  4. Синдо Д., Оикава Т. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия, М:Техносфера, 2006.