Навчання > Мікроскопія нанорозмірних об’єктів (105 – Прикладна фізика та наноматеріали, ОП Нанофізика та наноматеріали)

Мікроскопія нанорозмірних об’єктів (105 – Прикладна фізика та наноматеріали, ОП Нанофізика та наноматеріали)

Тип: Нормативний

Кафедра: фізики твердого тіла

Навчальний план

СеместрКредитиЗвітність
43Іспит

Лекції

СеместрК-сть годинЛекторГрупа(и)
416Еліяшевський Ю. І.ФзН-21

Лабораторні

СеместрК-сть годинГрупаВикладач(і)
432ФзН-21Еліяшевський Ю. І., Еліяшевський Ю. І.

Опис навчальної дисципліни

Курс мікроскопія нанорозмірних об’єктів є курсом зі спеціалізації, який є основою для розуміння та виконання студентами мікроскопійних досліджень, їх можливостей та обмежень.

Мета: формування у майбутнього фізика поняття про методи мікроскопії, що ґрунтуються на різній природі взаємодій між зондом зі зразком.

Завдання: навчити студентів самостійно вибирати і обґрунтовувати свій вибір щодо оптимального методу мікроскопії для конкретного об’єкта заданої природи у процесі виконання магістерської роботи.

В результаті вивчення даного курсу студент повинен знати основні поняття предмету, викладені у програмі курсу

вміти: працювати на скануючому електронному мікроскопі на рівні початкуючого користувача, читати отримані мікроскопом у різних режимах зображення, проводити найпростіший мікроаналіз; пояснювати основні принципи роботи зондових мікроскопів, використовувати вивчені методи мікроскопії у самостійній науковій роботі.

 

Рекомендована література

Базова:

  1. Тузяк О.Я. Основи електронної та зондової мікроскопії: навч. посібник / О.Я.Тузяк, В.Ю. Курляк. – Львів : ЛНУ імені Івана Франка, 2012. – 296 с.
  2. Goodhew P.J., Humphreys J., Beanland R. Electron microscopy and analysis. 3d edition.- Taylor and Francis, London and New York, 2017.
  3. Michler G.H. Compact Introduction to Electron Microscopy: Techniques, State, Applications, Perspectives. – Springer Wiesbaden, 2022. – 54 p.
  4. Jawand J. AFM Handbook; Theoretical Principles and Experimental Parameters / A. J. Jawand . – Scholar’s Press, 2020 . – 57 p.

Допоміжна:

  1. Goldstein I. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis / Joseph I. Goldstein , Dale E. Newbury , Joseph R. Michael , Nicholas W.M. Ritchie , John Henry J. Scott , David C. Joy, Fours edition. – Springer-Verlag New York, 2017. – 550 p.
  2. Zhou W., Wang Zh. Scanning Microscopy for Nanotechnology / Weilie Zhou, Zhong Lin Wang . –Springer Science, 2006. – 513 p.
  3. Eaton P., West P. Atomic Force Microscopy / Peter Eaton Paul West. – Oxford University Press 2010. – 248 p.

Інформаційні ресурси:

  1. www.afmworkshop.com
  2. www.nanohub.org
  3. www.znannya.org
  4. www.nbuv.gov.ua/portal/natural/nano/

Силабус:

Завантажити силабус