Сучасні методи дослідження структури матеріалів (104 – Фізика та астрономія. ОНП Експериментальна фізика)

Тип: Нормативний

Кафедра: фізики металів

Навчальний план

СеместрКредитиЗвітність
113Залік

Лекції

СеместрК-сть годинЛекторГрупа(и)
1116доцент Королишин А. В.ФзФм-22

Лабораторні

СеместрК-сть годинГрупаВикладач(і)
1116ФзФм-22доцент Королишин А. В.

Опис навчальної дисципліни

Мета дисципліни «Сучасні методи дослідження структури матеріалів» – дати знання майбутнім магістрам про новітні Х-променеві, електронно- та нейтронографічні методи дослідження структури матеріалів. Навчити майбутніх спеціалістів володіти сучасними методами високоенергетичної спектроскопії для встановлення реальної атомної будови неорганічних матеріалів. Навчити студентів самостійно виконувати розрахунки, необхідні для розв’язування задач дослідження структури матеріалів, забезпечити отримання практичних навиків роботи з вимірювальною апаратурою, навчити інтерпретувати отримані експериментальні та теоретично розраховані результати.

В результаті вивчення даної дисципліни студент повинен:

Знати: основи теорії дифракції рентгенівських променів на досконалих кристалічних гратках; основні методи дослідження структури (рентгеноструктурний, рентгеноспектральний, електронографічний, електроннооптична мікроскопія, растрова електронна мікроскопія, термоелектронна емісійна мікроскопія та автоіонна мікроскопія); принципи роботи сучасних приладів для структурного аналізу; теоретичні та практичні можливості сучасних методів аналізу, актуальні проблеми і перспективи їх розвитку; практичне використання сучасних методів дослідження структури матеріалів; знати методики приготування зразків для досліджень структури матеріалів.

Вміти: грамотно обирати необхідні сучасні методи дослідження структури матеріалів; використовувати сучасні методи для вирішення питань контролю якості матеріалів; проводити якісний та кількісний аналіз із відповідною обробкою результатів; вірно визначитися в одержаних кристалографічних характеристиках матеріалів; визначати хімічний склад структурних складових і розподілення хімічних елементів; розшифровувати інформацію, отриману на приладах досліджень матеріалів та грамотно її використовувати при аналізі результатів.

Рекомендована література

Базова:

  1. В.П.Казіміров, Е. Б. Русанов. Рентгенографія кристалічних матеріалів : навч. посіб. / – К. : ВПЦ “Київський університет”, 2016. – 287 с.
  2. О.О.Балицький, О.Г. Миколайчук. Дифракція електронів для дослідження структури матеріалів. Львів, Вид. центр ЛНУ.-2006.-62с.
  3. Миколайчук О.Г., Когут О.М. Практикум з електронографії. Львів. 1977. – 112с.
  4. О.Я. Тузяк, В.Ю. Курляк. Основи електронної та зондової мікроскопії: навч. посібник/ Львів : ЛНУ імені Івана Франка, 2012.-296 с.
  5. Rene Guinebretiere X-ray Diffraction by Polycrystalline Materials Hermes Science, 2007
  6. Е.Glаdуshеvskіі, Methods to Determine Crystal Structures, ТехtBооk, Рublіshіng Сеntег of Ivan Frаnkо National Unіvеrsіtу of Lvіv, Lviv, 2015. – 135p.
  7. Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials. Springer 2005. -713p.
  8. Shcherba. High-Energy Spectroscopy of Compounds. Textbook. Рublіshіng Сеntег of Ivan Frаnkо National Unіvеrsіtу of Lvіv, Lviv, 2018. – 304p.
  9. І.Д.Щерба. Високоенергетична спектроскопія матеріалів. Навчальний посібник. Львів: Видавничий центр ЛНУ ім. Івана Франка, 2012. –248с.

Допоміжна:

  1. Г.П.Кушта Рентгенографія металів Видавництво Львівського університету, 1959, 386c.
  2. M. Kuno. Introduction to nanoscience and nanotechnology: A workbook, Notre Dame, 2004, 246p

Додаткові матеріали також буде запропоновано для кожної теми окремо.

Інформаційні ресурси

    1. Національна бібліотека України імені Володимира Вернадського
    2. Львівська національна наукова Бібліотека України імені Василя Стефаника
    3. Наукова бібліотека Львівського національного університету імені Івана Франка
    4. Вікіпедія

Силабус:

Завантажити силабус